中文

深入探讨硬件的边界扫描 (JTAG) 测试,涵盖其原理、优势、实施以及电子制造和设计的未来趋势。

硬件测试:边界扫描 (JTAG) 综合指南

在不断发展的电子世界中,确保硬件的质量和可靠性至关重要。随着电路板密度增加和元件尺寸缩小,传统的测试方法变得越来越具有挑战性和昂贵。边界扫描,也称为 JTAG(联合测试行动组),为测试复杂的电子组件提供了一种强大而通用的解决方案。本综合指南深入探讨了边界扫描测试的原理、优势、实施和未来趋势。

什么是边界扫描 (JTAG)?

边界扫描是一种标准化方法,用于测试印刷电路板 (PCB) 上集成电路 (IC) 之间的互连,无需物理探测。它由 IEEE 1149.1 标准定义,该标准规定了一种串行通信协议和架构,允许通过专用测试端口访问 IC 的内部节点。该端口通常由四个或五个信号组成:TDI(测试数据输入)、TDO(测试数据输出)、TCK(测试时钟)、TMS(测试模式选择)和可选的 TRST(测试复位)。

在其核心,边界扫描涉及将扫描单元放置在 IC 的输入和输出端。这些扫描单元可以捕获来自 IC 功能逻辑的数据,并通过测试端口将其移出。相反,数据可以从测试端口移入扫描单元,并应用于功能逻辑。通过控制移入和移出的数据,工程师可以测试 IC 之间的连接,识别故障,甚至可以对设备进行编程。

JTAG 的起源和发展

20 世纪 80 年代,印刷电路板 (PCB) 和表面贴装技术 (SMT) 的日益复杂使得传统的“针床”测试变得越来越困难和昂贵。因此,成立了联合测试行动组 (JTAG),以开发一种标准化、经济高效的 PCB 测试方法。结果是 IEEE 1149.1 标准,于 1990 年正式批准。

自那时以来,JTAG 已从一种主要面向制造的测试技术发展成为一种广泛采用的解决方案,适用于各种应用,包括:

边界扫描系统的关键组件

边界扫描系统通常由以下组件组成:

边界扫描测试的优势

与传统的测试方法相比,边界扫描具有许多优势:

边界扫描的应用

边界扫描用于各种应用,包括:

边界扫描在行动中的示例:

实施边界扫描:分步指南

实施边界扫描涉及几个步骤:

  1. 可测试性设计 (DFT):在设计阶段考虑可测试性要求。这包括选择边界扫描兼容 IC 并确保正确配置边界扫描链。关键的 DFT 考虑因素包括最大限度地减少电路板上的 TAP 控制器数量(在复杂设计中可能需要级联 TAP 控制器)并确保 JTAG 信号上的良好信号完整性。
  2. BSDL 文件获取:获取设计中所有边界扫描兼容 IC 的 BSDL 文件。这些文件通常由 IC 制造商提供。
  3. 测试向量生成:使用边界扫描软件根据 BSDL 文件和设计网表生成测试向量。该软件将自动创建测试互连所需的信号序列。一些工具提供用于互连测试的自动测试模式生成 (ATPG)。
  4. 测试执行:将测试向量加载到 ATE 系统中并执行测试。ATE 系统会将测试模式应用于电路板并监视响应。
  5. 故障诊断:分析测试结果以识别和隔离故障。边界扫描软件通常提供详细的诊断信息,例如短路和开路的位置。
  6. 在系统编程 (ISP):如果需要,使用边界扫描对闪存进行编程或配置可编程设备。

边界扫描的挑战

虽然边界扫描具有显着优势,但也需要考虑一些挑战:

克服边界扫描挑战

存在许多策略来克服边界扫描的局限性:

边界扫描标准和工具

边界扫描的基石是 IEEE 1149.1 标准。但是,其他几个标准和工具也发挥着关键作用:

有许多商业和开源边界扫描工具可用,包括:

边界扫描的未来

边界扫描不断发展,以应对现代电子产品的挑战。

总之,边界扫描是一项至关重要的技术,可确保现代电子产品的质量和可靠性。通过了解其原理、优势和实施,工程师可以利用边界扫描来提高测试覆盖率、降低测试成本并加快上市时间。随着电子产品变得越来越复杂,边界扫描将仍然是硬件测试的重要工具。