Suomi

Perusteellinen tutustuminen Boundary Scan (JTAG) -testaukseen, sen periaatteisiin, etuihin, toteutukseen ja tulevaisuuden suuntauksiin elektroniikkavalmistuksessa ja -suunnittelussa.

Laitteistotestaus: Kattava opas Boundary Scan -testaukseen (JTAG)

Elektroniikan jatkuvasti kehittyvässä maailmassa laitteiston laadun ja luotettavuuden varmistaminen on ensiarvoisen tärkeää. Piirilevyjen tiheyksien kasvaessa ja komponenttien kokojen pienentyessä perinteisistä testimenetelmistä tulee yhä haastavampia ja kalliimpia. Boundary Scan, joka tunnetaan myös nimellä JTAG (Joint Test Action Group), tarjoaa tehokkaan ja monipuolisen ratkaisun monimutkaisten elektronisten kokoonpanojen testaamiseen. Tämä kattava opas perehtyy Boundary Scan -testauksen periaatteisiin, hyötyihin, toteutukseen ja tulevaisuuden suuntauksiin.

Mikä on Boundary Scan (JTAG)?

Boundary Scan on standardoitu menetelmä integroitujen piirien (IC) välisten kytkentöjen testaamiseen painetulla piirilevyllä (PCB) ilman fyysistä mittapäätä. Sen määrittelee IEEE 1149.1 -standardi, joka määrittää sarjamuotoisen tiedonsiirtoprotokollan ja -arkkitehtuurin, joka mahdollistaa pääsyn IC:n sisäisiin solmuihin erillisen testausportin kautta. Tämä portti koostuu tyypillisesti neljästä tai viidestä signaalista: TDI (Test Data In), TDO (Test Data Out), TCK (Test Clock), TMS (Test Mode Select) ja valinnaisesti TRST (Test Reset).

Ytimeltään Boundary Scan sisältää skannauskennojen sijoittamisen IC:iden tuloihin ja lähtöihin. Nämä skannauskennot voivat kaapata tietoja IC:n toiminnallisesta logiikasta ja siirtää ne ulos testausportin kautta. Vastaavasti tietoja voidaan siirtää skannauskennoihin testausportista ja soveltaa toiminnalliseen logiikkaan. Ohjaamalla sisään ja ulos siirrettyjä tietoja insinöörit voivat testata IC:iden välisiä yhteyksiä, tunnistaa vikoja ja jopa ohjelmoida laitteita.

JTAG:n alkuperä ja kehitys

Painettujen piirilevyjen (PCB) ja pintaliitostekniikan (SMT) lisääntyvä monimutkaisuus 1980-luvulla teki perinteisestä 'neulapatja'-testauksesta yhä vaikeampaa ja kalliimpaa. Tämän seurauksena Joint Test Action Group (JTAG) perustettiin kehittämään standardoitu ja kustannustehokas menetelmä piirilevyjen testaamiseen. Tuloksena oli IEEE 1149.1 -standardi, joka ratifioitiin virallisesti vuonna 1990.

Sen jälkeen JTAG on kehittynyt pääasiassa valmistukseen keskittyvästä testiteknologiasta laajalti käytössä olevaksi ratkaisuksi erilaisiin sovelluksiin, kuten:

Boundary Scan -järjestelmän avainkomponentit

Boundary Scan -järjestelmä koostuu tyypillisesti seuraavista komponenteista:

Boundary Scan -testauksen edut

Boundary Scan tarjoaa lukuisia etuja perinteisiin testimenetelmiin verrattuna:

Boundary Scan -sovellukset

Boundary Scan -testausta käytetään monissa eri sovelluksissa, kuten:

Esimerkkejä Boundary Scan -testauksen käytöstä:

Boundary Scan -testauksen toteuttaminen: vaiheittainen opas

Boundary Scan -testauksen toteuttaminen sisältää useita vaiheita:

  1. Design for Testability (DFT): Ota huomioon testattavuusvaatimukset suunnitteluvaiheessa. Tähän sisältyy Boundary Scan -yhteensopivien IC:iden valitseminen ja sen varmistaminen, että Boundary Scan -ketju on määritetty oikein. Tärkeimpiä DFT-näkökohdat ovat TAP-ohjaimien lukumäärän minimointi levyllä (TAP-ohjaimien ketjutus saattaa olla tarpeen monimutkaisissa malleissa) ja hyvän signaalin eheyden varmistaminen JTAG-signaaleissa.
  2. BSDL-tiedoston hankinta: Hanki BSDL-tiedostot kaikille suunnittelun Boundary Scan -yhteensopiville IC:ille. IC-valmistajat toimittavat yleensä nämä tiedostot.
  3. Testivektorin generointi: Luo testivektorit BSDL-tiedostojen ja suunnittelun nettilistan perusteella Boundary Scan -ohjelmistolla. Ohjelmisto luo automaattisesti kytkentöjen testaamiseen tarvittavat signaalisekvenssit. Jotkin työkalut tarjoavat automaattisen testikuvioiden generoinnin (ATPG) kytkentöjen testaamiseen.
  4. Testin suoritus: Lataa testivektorit ATE-järjestelmään ja suorita testit. ATE-järjestelmä soveltaa testimallit levylle ja valvoo vasteita.
  5. Vianmääritys: Analysoi testitulokset vikojen tunnistamiseksi ja eristämiseksi. Boundary Scan -ohjelmisto tarjoaa tyypillisesti yksityiskohtaista diagnostiikkatietoa, kuten oikosulkujen ja avoimien piirien sijainnin.
  6. In-System Programming (ISP): Käytä tarvittaessa Boundary Scan -testausta flash-muistin ohjelmointiin tai ohjelmoitavien laitteiden määrittämiseen.

Boundary Scan -testauksen haasteet

Vaikka Boundary Scan tarjoaa merkittäviä etuja, on myös haasteita, jotka on otettava huomioon:

Boundary Scan -testauksen haasteiden voittaminen

On olemassa monia strategioita, joilla voidaan voittaa Boundary Scan -testauksen rajoitukset:

Boundary Scan -standardit ja -työkalut

Boundary Scan -testauksen kulmakivi on IEEE 1149.1 -standardi. Useat muut standardit ja työkalut ovat kuitenkin ratkaisevassa roolissa:

Saatavilla on lukuisia kaupallisia ja avoimen lähdekoodin Boundary Scan -työkaluja, kuten:

Boundary Scan -testauksen tulevaisuus

Boundary Scan kehittyy jatkuvasti vastaamaan nykyajan elektroniikan haasteisiin.

Yhteenvetona voidaan todeta, että Boundary Scan on elintärkeä tekniikka nykyaikaisen elektroniikan laadun ja luotettavuuden varmistamiseksi. Ymmärtämällä sen periaatteet, hyödyt ja toteutuksen insinöörit voivat hyödyntää Boundary Scan -testausta testikattavuuden parantamiseen, testauskustannusten alentamiseen ja markkinoilletuloajan nopeuttamiseen. Elektroniikan monimutkaistuessa Boundary Scan säilyy olennaisena työkaluna laitteistotestauksessa.